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第三代
半导体测试家族
Third generation semiconductor testing family
分类
联动科技成功参展第五届SEMI-e深圳国际半导体展


SEMI-e深圳国际半导体展于5月16-18日在深圳国际会展中心顺利举行。


公司展示了半导体IC测试系统、分立器件测试系统和激光打标机系统的最新产品，包括：QT-8409PM IGBT SIC模块动态参数测试系统、数字模拟混合信号IC测试系统QT-8200(Direct Mount)、全自动激光打标系统等先进设备。


1、QT-8409PM IGBT SIC模块动态参数测试系统

2、数字模拟混合信号IC测试系统QT-8200(Direct Mount)

3、全自动激光打标系统


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